設備名稱：電磁吸合式振動試驗臺
1、適用范圍：本標準規(guī)定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。
2、裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。
（1）振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為25%以下。
（2）振動振幅：規(guī)定振動方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內。
（3）與規(guī)定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為規(guī)定方向之25%以下。
（4）振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應為±2%。
（5）掃描（1）方法：原則是為對數掃描，但平均掃描亦可。
注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動頻率范圍作1次往復之頻率變化。
3、準備
3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標準規(guī)定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝后亦不得松動或發(fā)生共振，組件標準應規(guī)定下列任一種安裝方法。
（1）固定組件本體（有導線之組件，亦同時固定導線）。
（2）僅固定導線。
4、試驗
4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規(guī)定。
4．2 初期測定：依組件標準之規(guī)定施行，檢查外觀。
4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產生磁導且供試品易受磁場影響時，于組件中應規(guī)定其大允許值。
4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗）三種。
（1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標準之規(guī)定，照下表施行（參照圖）。
振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。
表
振動種類
試驗條件 種類A 種類B 種類C
振動頻率范圍 10～55Hz 100～500Hz 10～2000Hz
全振幅或加速度 1．5mm 1．5mm或98m/s2（10G）中較小者 1．5mm或196m/s2（20G）中較小者
掃描之比例 10-55-10Hz
約1分鐘 10-500-10Hz約15分鐘 10-2000-10Hz約20分鐘
掃描方法 對數掃描或平均掃描
試驗時間 6小時
（2）試驗方法Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）：本試驗是于4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與掃描耐久試驗相同。但如由于減小振幅更能檢出振動特性。可減小振幅。
在掃描中檢出共振點時，減低規(guī)定之掃描程度，必要時可停止掃描。于掃描耐入試驗前后檢出之共振頻率，均應予以記錄。
（3）試驗方法Ⅲ（共振點耐久試驗）：本試驗是就規(guī)定各振動方向之振動頻率，依組件標準之規(guī)定，于組件標準規(guī)定
之振動頻率范圍內作下列時間之試驗。
10分鐘 30分鐘 90分鐘 10小時 10周（cycle）
4．3．2 電負載：組件標準有規(guī)定時，于4．3．1（1）、（2）、（3）試驗中，施加電負載。
4．3．3 后處理：原則上不作處后處理，但如有特別需要時，使組件標準之規(guī)定。
4．5 終測定：依組件標準之規(guī)定施行，且檢查外觀。
5、組件標準應規(guī)定事項
（1） 安裝（安裝用具及安裝方法）（參照3．1節(jié)）
（2） 前處理條件（有需要時）（參照4．1節(jié)）
（3） 初期測定項目（參照4．2節(jié)）
（4） 磁場影響（參照4．3節(jié)）
（5） 試驗方法種類及試驗條件（參照4．3．1（1）、（2）、（3））
（6） 電負載條件（參照4．3．2節(jié)）
（7） 振動試驗中之測定項目（有需要時）（參照4．3．3節(jié)）
（8） 后處理條件（有需要時局（參照4．4節(jié)）
（9） 終測定項目（參照4．5節(jié)）
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